International Standard
ISO 6342:2003
Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area
Reference number
ISO 6342:2003
Edición 2
2003-07
© ISO 2024
International Standard
Vista previa
No disponible en español
Publicado (Edición 2, 2003)
Esta norma se revisó y confirmó por última vez en 2021. Por lo tanto, esta versión es la actual.

ISO 6342:2003

Formato
Idioma
CHF 42
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Resumen

ISO 6342:2003 specifies a method of measuring the thickness of the buildup area on aperture cards (camera and copy cards) for manufacturing and inspection purposes.

Informaciones generales

  • Estado
     : Publicado
    Fecha de publicación
     : 2003-07
    Etapa
    : Norma Internacional confirmada [90.93]
  • Edición
     : 2
    Número de páginas
     : 3
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 171
    ICS :
    37.080 
  • RSS actualizaciones

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9
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