International Standard
ISO 15932:2013
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Vocabulary
Reference number
ISO 15932:2013
Edición 1
2013-12
© ISO 2024
International Standard
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No disponible en español
Publicado (Edición 1, 2013)

ISO 15932:2013

Idioma
Formato
CHF 129
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Resumen

ISO 15932:2013 defines terms used in the practice of AEM. It covers both general and specific concepts classified according to their hierarchy in a systematic order. It is applicable to all standardization documents relevant to the practice of AEM. In addition, some parts of this International Standard are applicable to those documents relevant to the practice of related fields (e.g. TEM, STEM, SEM, EPMA, EDX) for the definition of those terms common to them.

Informaciones generales

  • Estado
     : Publicado
    Fecha de publicación
     : 2013-12
    Etapa
    : Cierre de la revisión [90.60]
  • Edición
     : 1
    Número de páginas
     : 21
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 202/SC 1
    ICS :
    37.020  01.040.37 
  • RSS actualizaciones

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