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Norme et/ou projet sous la responsabilité directe du ISO/TC 201/SC 8 Secrétariat Stade ICS
Analyse chimique des surfaces — Modes opératoires généraux pour le profilage en profondeur compositionnel quantitatif par spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente
90.92
Analyse chimique des surfaces — Modes opératoires généraux pour le profilage en profondeur compositionnel quantitatif par spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente
40.00
Analyse chimique des surfaces — Spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente — Introduction à son emploi
95.99
Analyse chimique des surfaces — Spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente — Introduction à son emploi
95.99
Analyse chimique des surfaces — Spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente — Introduction à son emploi
60.60
Analyse chimique des surfaces — Spectrométrie de masse à décharge luminescente (GD-MS) — Introduction à l'utilisation
95.99
Analyse chimique des surfaces — Spectrométrie de masse à décharge luminescente (GD-MS) — Introduction à l'utilisation
90.92
Analyse chimique des surfaces — Spectrométrie de masse à décharge luminescente (GD-MS) — Introduction à l'utilisation
50.00
Analyse chimique des surfaces — Analyse des revêtements métalliques à base de zinc et/ou d'aluminium par spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente
95.99
Analyse chimique des surfaces — Analyse des revêtements métalliques à base de zinc et/ou d'aluminium par spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente
90.93
Analyse chimique des surfaces — Analyse des nanocouches métalliques sur des substrats à base de fer par spectrométrie d'émission optique à décharge lumineuse
60.60
Analyse chimique des surfaces — Analyse de films d'oxyde de métal par spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente
95.99
Analyse chimique des surfaces — Analyse de films d'oxyde de métal par spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente
90.92
Titre manque
50.00

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