Le dernier examen de cette norme date de 2021.
Cette édition reste donc d’actualité.
Résumé
PreviewISO 13424:2013 specifies the minimum amount of information required in reports of analyses of thin films on a substrate by XPS. These analyses involve measurement of the chemical composition and thickness of homogeneous thin films, and measurement of the chemical composition as a function of depth of inhomogeneous thin films by angle-resolved XPS, XPS sputter-depth profiling, peak-shape analysis, and variable photon energy XPS.
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État actuel: PubliéeDate de publication: 2013-10
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Edition: 1
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- ICS :
- 71.040.40 Méthodes d'analyse chimique
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