недоступно на русском языке

Тезис

 Preview

ISO 23830:2008 specifies a method for confirming the repeatability and constancy of the positive-ion relative-intensity scale of static secondary-ion mass spectrometers, for general analytical purposes. It is only applicable to instruments that incorporate an electron gun for charge neutralization. It is not intended to be a calibration of the intensity/mass response function. That calibration may be made by the instrument manufacturer or another organization. The present method provides data to confirm the constancy of relative intensities with instrument usage. Guidance is given on some of the instrument settings that may affect this constancy.


Общая информация 

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2008-11
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет
     : ISO/TC 201/SC 6 Secondary ion mass spectrometry
  • ICS
     :
    71.040.40 Chemical analysis

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF
Бумажный
  • CHF61

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 71
  6. 71.040
  7. 71.040.40
  8. ISO 23830:2008