ISO 13095:2014 - Surface Chemical Analysis — Atomic force microscopy — Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement

Последний раз этот стандарт был пересмотрен в 2021. Поэтому данная версия остается актуальной

Тезис

ISO 13095:2014 specifies two methods for characterizing the shape of an AFM probe tip, specifically the shank and approximate tip profiles. These methods project the profile of an AFM probe tip onto a given plane, and the characteristics of the probe shank are also projected onto that plane under defined operating conditions. The latter indicates the usefulness of a given probe for depth measurements in narrow trenches and similar profiles. This International Standard is applicable to the probes with radii greater than 5u₀, where u₀ is the uncertainty of the width of the ridge structure in the reference sample used to characterize the probe.

Общая информация

Текущий статус
: Опубликовано

Дата публикации
: 2014-07
Версия
: 1
Технический комитет
: ISO/TC 201/SC 9 Scanning probe microscopy
ICS
:
71.040.40 Chemical analysis

Приобрести данный стандарт

	Формат	Язык
std 1 124	PDF + ePub
std 2 124	Бумажный

CHF124

Жизненный цикл

Сейчас

Опубликовано

ISO 13095:2014

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет
Этап: 90.93 (Подтверждено)

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цели в области устойчивого развития

Хорошее здоровье и благополучие

Чистая вода и санитария

Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами

+41 22 749 08 88

customerservice@iso.org

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)