Reference number
ISO 13095:2014
© ISO 2025
International Standard
ISO 13095:2014
Surface Chemical Analysis — Atomic force microscopy — Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement
Edition 1
2014-07
Preview
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 1, 2014)
Последний раз этот публикация был пересмотрен в  2021. Поэтому данная версия остается актуальной.

ISO 13095:2014

Язык
Формат
CHF 132
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO 13095:2014 specifies two methods for characterizing the shape of an AFM probe tip, specifically the shank and approximate tip profiles. These methods project the profile of an AFM probe tip onto a given plane, and the characteristics of the probe shank are also projected onto that plane under defined operating conditions. The latter indicates the usefulness of a given probe for depth measurements in narrow trenches and similar profiles. This International Standard is applicable to the probes with radii greater than 5u0, where u0 is the uncertainty of the width of the ridge structure in the reference sample used to characterize the probe.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2014-07
    Этап
    : Подтверждение действия международного стандарта [90.93]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 201/SC 9
    ICS :
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цели в области устойчивого развития

3
Хорошее здоровье и благополучие
6
Чистая вода и санитария
9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Интернет-магазин
  4. ТК
  5. ISO/TC 201/SC 9
  6. ISO 13095:2014