International Standard
ISO 15932:2013
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Vocabulary
Reference number
ISO 15932:2013
Версия 1
2013-12
© ISO 2024
International Standard
Предпросмотр
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 1, 2013)

ISO 15932:2013

Формат
Язык
CHF 129
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO 15932:2013 defines terms used in the practice of AEM. It covers both general and specific concepts classified according to their hierarchy in a systematic order. It is applicable to all standardization documents relevant to the practice of AEM. In addition, some parts of this International Standard are applicable to those documents relevant to the practice of related fields (e.g. TEM, STEM, SEM, EPMA, EDX) for the definition of those terms common to them.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2013-12
    Этап
    : Систематический пересмотр между-народного стандарта [90.20]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 202/SC 1
    ICS :
    37.020  01.040.37 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. ТК
  5. ISO/TC 202/SC 1
  6. ISO 15932:2013