ISO 23729:2022 - Surface chemical analysis — Atomic force microscopy — Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size

Тезис

This document describes a procedure for the quantitative characterization of the probe tip of an atomic force microscope (AFM) probe and a restoration of AFM topography images dilated by finite probe size. The three-dimensional shape of the probe apex is extracted by image reconstruction using suitable reference materials. This document is applicable to the reconstruction of AFM topography images of solid material surfaces.

Общая информация

Текущий статус
: Опубликовано

Дата публикации
: 2022-07
Версия
: 1
Технический комитет
: ISO/TC 201/SC 9 Scanning probe microscopy
ICS
:
71.040.40 Chemical analysis

Приобрести данный стандарт

	Формат	Язык
std 1 92	PDF + ePub
std 2 92	Бумажный

CHF92

Жизненный цикл

Сейчас

Опубликовано

ISO 23729:2022
Этап: 60.60

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цели в области устойчивого развития

Индустриализация, инновации и инфраструктура

Хорошее здоровье и благополучие

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами

+41 22 749 08 88

customerservice@iso.org

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)