ISO 18114:2021
p
ISO 18114:2021
80189
недоступно на русском языке

Тезис

 Preview

This document specifies a method of determining relative sensitivity factors (RSFs) for secondary-ion mass spectrometry (SIMS) from ion-implanted reference materials.

The method is applicable to specimens in which the matrix is of uniform chemical composition, and in which the peak concentration of the implanted species does not exceed one atomic percent.


Общая информация 

  •  : Опубликовано
     : 2021-05
  •  : 2
  •  : ISO/TC 201/SC 6 Secondary ion mass spectrometry
  •  :
    71.040.40 Chemical analysis

Приобрести данный стандарт

ru
Формат Язык
std 1 40 PDF + ePub
std 2 40 Бумажный
  • CHF40

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)